[元带你学NVMe协议] 设备自测试操作(NVMe Device Self-test Operations) 详解与实战 24-03-08 05:20 4656 13653 blog.csdn.net 传送门: >>> 总目录 内容摘要 全文 7000 字， 主要内容 目录 前言 1. 概念与介绍 2. Device Self-test command介绍 3. Device Self-test——identify controller data structure Identify中相关标识设置查询 注：本文转载自blog.csdn.net的元存储的文章"https://blog.csdn.net/vagrant0407/article/details/130716160"。版权归原作者所有，此博客不拥有其著作权，亦不承担相应法律责任。如有侵权，请联系我们删除。 复制链接
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